荧光X-射线仪器的测量原理物质经X射线或粒子射线照射后，由于吸收多余的能量而变成不稳定的状态。从不稳定状态要回到稳定状态，此物质必需将多余的能量释放出来，而此时是以荧光或光的形态被释放出来。荧光X射线镀层厚度测量仪或成分分析仪的原理就是测量这被释放出来的荧光的能量及强度，来进行定性和定量分析。

产品型号：XRF-2020H
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更新时间：2025-03-11
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X荧光金属镀层测厚仪可用于测量一般工件、PCB及五金、半导体等产品的各种金属镀层的厚度。其特点为：雷射自动对焦、全自动XYZ样片台、Point and Shoot 自动对位、具温度补偿功能、十字线自动调整、具有竞争力的价格、可测单层，双层，三层以及合金层的镀层厚度，是非破坏性测厚仪器的首选机型。

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